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CTL for Test Information of Digital ICs
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Detalles del libro

Editorial

Springer London, Limited

Páginas

183

Idioma

en

Autor

Rohit Kapur

Descripción

Este libro se centra en la descripción de CTL (Core Test Language), un lenguaje utilizado para representar información de prueba en circuitos integrados digitales. El libro está orientado a ejemplos y busca que el lector piense como los creadores de CTL. Es relevante para aquellos interesados en probar circuitos integrados y en el desarrollo o uso de núcleos en metodologías de sistema en chip.

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